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水滴角測試儀原理
2019-01-26
目前市場上有很多自稱是“水滴角測量儀”的分析儀器，通常這些儀器是將臥式顯微鏡或平整度分析儀增加一個進液裝置后，再采用簡單的量角度軟件（如圓擬合分析工具、橢圓擬合分析工具）進行測量。通過如上描述，用戶就會明顯看出，這樣的儀器只能是基于顯微鏡的一個量測二維條件下的水滴輪廓的角度的工具而已。如上1所述，水滴角值是表征固體材料物理化學(xué)性質(zhì)值，這個值屬于物理化學(xué)領(lǐng)域。且由于如下固體材料客觀存在的原因：（1）表面粗糙度：導(dǎo)致各視角條件下角度可能有不同；（2）化學(xué)多樣性：比如生銹的鐵銹位置...
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選購水滴角的注意事項
2019-01-26
水滴角或水接觸角的測試主要注意點包括：（1）水的純度或清潔度一定要有保證。通常而言，建議測試水滴接觸角值時采用二次蒸餾水更好。（2）盡量保證室溫的穩(wěn)定性。*，水的表面張力值受溫度影響而有變化。但對于超疏水或超親水表面時，接觸角值事實影響并非很大，約在2度之內(nèi)。（3）測試水滴角前，一定要作進液系統(tǒng)及水的清潔度的判斷。方法為，測試之前，采用基于ADSA－RealDrop算法的Young-Laplace方程擬合法對水的表面張力值進行測試。ADSA-RealDrop法由于不受針頭直徑...
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北京品智創(chuàng)思臺階儀特點
2019-01-26
臺階儀屬于接觸式表面形貌測量儀器。根據(jù)使用傳感器的不同，接觸式臺階測量可以分為電感式、壓電式和光電式3種。其測量原理是：當(dāng)觸針沿被測表面輕輕滑過時，由于表面有微小的峰谷使觸針在滑行的同時，還沿峰谷作上下運動。觸針的運動情況就反映了表面輪廓的情況。傳感器輸出的電信號經(jīng)測量電橋后，輸出與觸針偏離平衡位置的位移成正比的調(diào)幅信號。經(jīng)放大與相敏整流后，可將位移信號從調(diào)幅信號中解調(diào)出來，得到放大了的與觸針位移成正比的緩慢變化信號。再經(jīng)噪音濾波器、波度濾波器進一步濾去調(diào)制頻率與外界干擾信號...
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電池充電放電測試系統(tǒng)
2019-01-26
設(shè)備型號PZ-M50A/400V輸出通道1通道1柜，共1柜接口與訊通過485與PC機通訊，可通過U口或串口連接，一臺PC機可控制200工作模式恒壓充電、恒流充電、恒流定終止電壓檢時放電、恒流定時檢壓放電、恒功率放電、恒電阻放電、靜置、暫停、循環(huán)運行方式，設(shè)置多階段程序時運行方式可以自由組合階段切換條件時間、電壓、安時實時顯示電流、電壓、時間、階段、模式、Ah、Wh、單體電壓操作模式1.階段數(shù)目、電流、電壓等參數(shù)可以在額定范圍內(nèi)自行設(shè)置；2.程序設(shè)置終止條件時，不必逐項都填寫，...
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晶圓表面張力接觸角表面能分析檢測測量系統(tǒng)
2019-01-26
晶圓表面分析檢測測量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)晶圓表面分析檢測測量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)詳情：晶圓表面分析檢測測量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)適用于半導(dǎo)體晶圓（Wafer）工藝的質(zhì)量控制。該視頻成像(VCA-Wafer)晶圓表面分析檢測測量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)提供晶圓（Wafers）表面的快速并準確的接觸角/表面能分析，從而評估粘性，潔凈度及鍍膜。晶圓表面分析檢測測量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)采用輕量化的設(shè)計、組裝方便的基于Windows™標(biāo)準的用戶友好型...
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橢偏儀SOPRALAB/KLA 在半導(dǎo)體工藝上的應(yīng)用
2019-01-25
公司提供匈牙利Semilab公司SE-2000型、SE-1000光譜型橢偏儀（原法國Sopra公司GES5-E）。WT-2000型、WT-1200A、WT-1200B型、WT-1000型少子壽命測試儀、DLS-83D深能級瞬態(tài)譜儀。SE-2000光譜橢偏儀（原法國Sopra公司）是的橢偏儀設(shè)備供應(yīng)商，其高精度橢偏儀在半導(dǎo)體、化合物半導(dǎo)體（GaAs/SiC）、LCD和MEMS領(lǐng)域有著非常廣泛的應(yīng)用。目前有超過500臺的Sopra橢偏儀應(yīng)用在各個行業(yè)。主要特點：高精度的薄膜測量（...
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臺階輪廓測試儀kia-tencor在半導(dǎo)體的應(yīng)用
2019-01-25
儀器簡介：應(yīng)用：◆薄膜厚度測量；◆樣品表面形貌測量；◆薄膜應(yīng)力測量；◆樣品表面粗糙度/波紋度測量；◆樣品表面三維形貌測量等。技術(shù)參數(shù)：KLA-Tenco探針式臺階儀，可測量納米級至2毫米臺階高度，并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度、應(yīng)力，集高測量精度、多功能性和經(jīng)濟性于一體，是生產(chǎn)線及材料分析等應(yīng)用領(lǐng)域的理想選擇。因其具有6.0A(1σ)或0.1%臺階高度重復(fù)性以及分辨率,主要特點：◆Alpha-StepIQ采用天然金剛石作為探頭，經(jīng)久耐用。探針更換簡便、快速，軟件具有保護測針以...
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光學(xué)膜厚儀Filmetrics F20UVX在半導(dǎo)體制造的應(yīng)用
2019-01-25
FilmetricsF20薄膜測厚儀經(jīng)濟有效的Filmetrics薄膜厚度測量系統(tǒng),測量薄膜厚度僅需幾秒鐘。Filmetrics系列膜厚測試儀擁有單點測量、顯微鏡斑點測量、自動測繪系統(tǒng)、在線監(jiān)測等功能型號的膜厚測試儀產(chǎn)品。Filmetrics膜厚測試儀產(chǎn)品輕點鼠標(biāo)就能測量1納米到13毫米的單層薄膜或多層薄膜堆厚度。幾乎所有的材料都可以被測量。直觀的設(shè)計意味著您能在幾分鐘內(nèi)完成個薄膜厚度測量！產(chǎn)品介紹：1有五種不同波長選擇(波長范圍從紫外220nm至近紅外1700nm)；2大樣...
當(dāng)前位置：